Scientific journal
Fundamental research
ISSN 1812-7339
"Перечень" ВАК
ИФ РИНЦ = 1,674

Новиков Б.А.

При изготовлении оболочек вращения возникает необходимость контролировать их форму. Наиболее распространенным является способ измерения отклонений от круглости, заключающийся в измерении радиус-векторов точек внутренней поверхности оболочки. Измерения проводятся в плоскости контролируемого сечения от произвольного центра. Полученные в результате измерения данные пересчитываются к одной из баз отсчета отклонений, в качестве которых могут использоваться прилегающие окружности, средняя окружность, окружность минимальных отклонений (окружность минимальной зоны) [1].

Очевидно, что такие измерения возможны только в случае, если внутри оболочки есть условия для использования крупногабаритного инструмента. Если внутри оболочки устанавливаются конструкции, то в них делают технологические вырезы, а если это не допускается, измерения радиус-векторов проводят не по всей совокупности контролируемых точек. Такие измерения снижают качество контроля. После установки внутри оболочек крупногабаритного оборудования измерения указанным способом становятся невозможными. Кроме того, известным способом отклонения от круглости измеряются только на внутренней поверхности тела вращения.

Практически, в настоящее время отсутствуют средства контроля формы оболочек вращения на стадиях, когда применение крупноразмерного инструмента (для измерения радиус-векторов) невозможно.

Одним из способов контроля формы оболочек вращения может быть способ, основанный на использовании в качестве базы измерения оптического цилиндра [5].

Оптический цилиндр создается следующим образом. С одной стороны оболочки устанавливается штанга, которая может вращаться на оси, совпадающей с осью оболочки. На конце штанги, на расстоянии от центра вращения несколько большем радиуса оболочки , устанавливается оптическая труба или лазерный визир. При вращении штанги ось оптического устройства перемещается по окружности. С другой стороны оболочки устанавливается экран с нанесенной на нем контрольной окружностью радиусом с центром, совпадающим с осью оболочки. Вместо экрана можно использовать часть экрана с фрагментом контрольной окружности, которая крепиться на вращающейся штанге.

Аналогично оптический цилиндр может быть создан и внутри оболочки. При этом его радиус берется несколько меньше радиуса оболочки.

При вращении штанги оптическая ось наводится на контрольную окружность и, тем самым, контролируется геометрическая точность оптического цилиндра. Измерения производятся от оптических струн до контрольных точек оболочки.

Следует отметить, что предложенный способ может быть использован не только для определения отклонений от круглости поперечных сечений, но и для измерения отклонений от цилиндричности.

В первом случае отклонения формы поперечных сечений оболочки приводятся к одной из принятых баз отсчета [1]. Так, в случае использования средней окружности, отклонения могут быть рассчитаны по методике [2] при равномерно распределенных по периметру точках контроля и [3] при неравномерной сетке. При определении отклонений от цилиндричности, можно воспользоваться методикой [4].

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ:

  1. ГОСТ 24642-81. Основные нормы взаимозаменяемости. Допуски формы и расположения поверхностей. Основные термины и определения. Взамен ГОСТ10356-63; Введ. 01.07.81.- М.: Издательство стандартов, 1990. - 68 с.
  2. Свид-во об офиц. регистрации программы для ЭВМ. № 2001611804 «Krug-1» / Б.А. Новиков (RU). - № 2001611517; Заяв. 5.11.01; Опубл. 26.12.01, ОБ Роспатента "Программы для ЭВМ, базы данных, топологии интегральных микросхем" №1-2002.стр.339.
  3. Свид-во об офиц. регистрации программы для ЭВМ. № 2002610926 «Krug-2» / Б.А. Новиков (RU). - № 2002610277; Заяв. 28.02.02; Опубл. 13.06.02, ОБ Роспатента "Программы для ЭВМ, базы данных, топологии интегральных микросхем" №3-2002.стр.466.
  4. Свид-во об офиц. регистрации программы для ЭВМ. № 2002611355 «Цилиндричность» / Б.А. Новиков (RU). - № 2002611042; Заяв. 10.06.02; Опубл. 8.08.02, ОБ Роспатента "Программы для ЭВМ, базы данных, топологии интегральных микросхем" №4-2002.стр.162-163.
  5. Пат. РФ № 2217694, МПК7 G01 B11/24. Способ измерения отклонений от круглости / Б.А. Новиков (РФ).- № 2002115844/28; Заявлено 13.06.2002; Опубл. 27.11.2003, Бюл. № 33. - 10 с.: ил.