Научный журнал
Фундаментальные исследования
ISSN 1812-7339
"Перечень" ВАК
ИФ РИНЦ = 1,074

ОБУЧЕНИЕ СТУДЕНТОВ В ЦЕНТРЕ НОВЫХ ТЕХНОЛОГИЙ

Гаврилов В.Ю., Номоконова Н.Н.

Очень серьезной проблемой для Приморского края являются резкие демографические изменения. В том числе, если можно так выразится, "техническая" демография - выезд инженерной молодежи в другие районы и за границы России.

В работе рассматривается один из путей преодоления указанной проблемы. В Центре новых современных технологий производства радиоэлектронных устройств (ЦНТ) созданы условия для применения интеллектуального потенциала выпускников. Центр создан совместными усилиями инженерной фирмы «Нивелир» и Владивостокского государственного университета экономики и сервиса (ВГУЭС). Много лет кафедра Электроники ВГУЭС проводит совместные научно-исследовательские работы в рамках договора о сотрудничестве с указанной фирмой. Основными задачами сотрудничества являются внедрение на Дальнем Востоке современных методов управления производством и качеством радиоэлектронных устройств (РЭУ), и подготовка квалифицированных кадров для предприятий отрасли с целью остановки оттока технически грамотной молодежи.

Таким образом, научно-исследовательские цели совпали с интересами вуза и производства.

ЦНТ - это небольшое опытное производство, оснащенное оборудованием для монтажа на поверхность (SMD) и проверки качества РЭУ [1, 2]. Монтаж на поверхность (SMT - Surface Mount Technology) это переход на современные методы сборки РЭУ, что обеспечивает высокое качество продукции и ее конкурентоспособность.

Инновационный потенциал Центра заключается в следующем:

  • накопленный научно-технический опыт может быть использован предприятиями радиоэлектронной промышленности при обновлении технологической базы;
  • подготовленные высококвалифицированные кадры обеспечат рост экспортного потенциала предприятий отрасли и постепенный отказ от импорта дешевой продукции бытовой электроники из ближнего для края зарубежья.

Научно - исследовательские интересы сотрудников Центра лежат в области контроля качества созданных устройств, которые зачастую используются в аппаратуре специального назначения при экстремальных эксплуатационных условиях. Исследования проводятся по усовершенствованному методу критических питающих напряжений [3], позволяющему определять индивидуальные технические параметры РЭУ. В методе используются такие информативные параметры как непосредственно критические питающие напряжения, так и их частотные и температурные зависимости.

К этой работе привлекаются наиболее одаренные студенты и аспиранты. Результаты этих серьезных исследований используются в дипломных и диссертационных работах.

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ

  1. Номоконова Н.Н., Гаврилов В.Ю. Информационно-измерительная система контроля качества интегральных электронных устройств. //Измерительная техника. Серия. Метрология. №5. 2004. 5с.
  2. Номоконова Н.Н., Гаврилов В.Ю. Интерфейсный блок программно-аппаратного комплекса управления качеством полупроводниковых электронных устройств. //Современные наукоемкие технологии. №1, 2005. С. 95-96.
  3. N.N. Nomokonova, V.Y. Gavrilov. The microelectronics lifetime estimation using fuzzy logic //Pacific Science Review. - 2003. - V.5. - No.1. - P.46-49.

Библиографическая ссылка

Гаврилов В.Ю., Номоконова Н.Н. ОБУЧЕНИЕ СТУДЕНТОВ В ЦЕНТРЕ НОВЫХ ТЕХНОЛОГИЙ // Фундаментальные исследования. – 2005. – № 4. – С. 29-29;
URL: http://fundamental-research.ru/ru/article/view?id=5931 (дата обращения: 18.01.2020).

Предлагаем вашему вниманию журналы, издающиеся в издательстве «Академия Естествознания»
(Высокий импакт-фактор РИНЦ, тематика журналов охватывает все научные направления)

«Фундаментальные исследования» список ВАК ИФ РИНЦ = 1.074