<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<article xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xsi:noNamespaceSchemaLocation="JATS-archive-oasis-article1-4.xsd" article-type="research-article" dtd-version="1.4" xml:lang="ru">
  <front>
    <journal-meta>
      <journal-title-group>
        <journal-title>Журнал Фундаментальные исследования</journal-title>
      </journal-title-group>
      <issn>1812-7339</issn>
      <publisher>
        <publisher-name>Общество с ограниченной ответственностью &amp;quot;Издательский Дом &amp;quot;Академия Естествознания&amp;quot;</publisher-name>
      </publisher>
    </journal-meta>
    <article-meta>
      <article-id pub-id-type="publisher-id">ART-30816</article-id>
      <title-group>
        <article-title>ОЦЕНИВАНИЕ ПОГРЕШНОСТЕЙ СОГЛАСОВАНИЯ ПРИ ИЗМЕРЕНИЯХ СОСТАВЛЯЮЩИХ КОМПЛЕКСНОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ</article-title>
      </title-group>
      <contrib-group>
        <contrib contrib-type="author">
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="ru">
              <surname>Баранов</surname>
              <given-names>В.А.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="en">
              <surname>Baranov</surname>
              <given-names>V.A.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <email>baranov_va2202@mail.ru</email>
          <xref ref-type="aff" rid="aff320efe3d"/>
        </contrib>
      </contrib-group>
      <aff id="aff320efe3d">
        <institution xml:lang="ru">Пензенский Государственный Университет</institution>
        <institution xml:lang="en">Penza State University</institution>
      </aff>
      <pub-date date-type="pub" iso-8601-date="2012-11-01">
        <day>01</day>
        <month>11</month>
        <year>2012</year>
      </pub-date>
      <issue>11</issue>
      <fpage>1441</fpage>
      <lpage>1444</lpage>
      <permissions>
        <license xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/">
          <license-p>This is an open-access article distributed under the terms of the CC BY 4.0 license.</license-p>
        </license>
      </permissions>
      <self-uri content-type="url" hreflang="ru">https://fundamental-research.ru/ru/article/view?id=30816</self-uri>
      <abstract xml:lang="ru" lang-variant="original" lang-source="author">
        <p>Способы измерений составляющих комплексного сопротивления двухполюсных электрических цепей (ДЭЦ) на основе пассивных измерительных схем с&amp;#8239;минимальным числом состояний и&amp;#8239;прямыми измерениями амплитуды напряжения на опорной ДЭЦ и&amp;#8239;фазового сдвига напряжений на опорных ДЭЦ обладают наиболее широкими функциональными возможностями среди известных способов прямого преобразования параметров комплексного сопротивления. В&amp;#8239;частности, они могут применяться для контроля изоляторов высоковольтных энергетических сетей под рабочим напряжением, превышающим допустимое напряжение на опорных ДЭЦ. Погрешность согласования сопротивлений опорных элементов измерительной схемы и&amp;#8239;входных сопротивлений АЦП напряжения и&amp;#8239;(или) АЦП фазового сдвига таких устройств является значительной. На результат измерения влияют не только входное сопротивление применяемого АЦП, но и&amp;#8239;параметры электрических цепей, соединяющих АЦП с&amp;#8239;измерительной схемой, электрические параметры и&amp;#8239;конструктивное расположение электрических и&amp;#8239;магнитных экранов. Отрицательное влияние всей совокупности этих факторов на точность измерения может быть ослаблено, если определить эквивалентное их воздействию входное сопротивления АЦП. Эквивалентное входное сопротивление АЦП определяется путем поочередного включения в&amp;#8239;измерительную схему с&amp;#8239;резистивными опорными элементами вместо исследуемой ДЭЦ двух образцовых элементов (резисторы, конденсаторы) с&amp;#8239;различными сопротивлениями. В&amp;#8239;каждом состоянии измерительной схемы проводится измерение напряжения на опорной ДЭЦ. Активная и&amp;#8239;реактивная составляющие эквивалентного сопротивления находятся как решения системы уравнений состояния измерительной схемы. Эквивалентный импеданс используется вместо номинального импеданса опорного двухполюсника при нахождении результатов измерения составляющих комплексного сопротивления, что позволяет уменьшить систематическую составляющую погрешности согласования.</p>
      </abstract>
      <abstract xml:lang="en" lang-variant="translation" lang-source="translator">
        <p>Methods of measuring the components of the impedance of two terminal network (TTN) based on passive measuring circuit with a minimal number of states and the direct measurements of the amplitude of the voltage at the reference TTN and phase shift of the voltages on the reference TTN have the wide functionality of the known methods of direct conversion. In particular, they can be applied to monitor the high voltage insulators of energy networks with operating voltage, exceeding the limit voltage at the reference TTN. However, the matching error of the reference TTN impedance and voltage ADC impedance and (or) phase shift ADC impedance of such devices is significant. The parameters of electrical circuits connecting the ADC to measuring circuit, the electrical parameters and structural arrangement of the electrical and magnetic screens influence on the measurement result too. The negative impact of all this factors on the accuracy of the measurement can be relaxed if we determine equivalent impedance of the ADC. This character of the ADC is determined by alternately included in the measuring circuit two precision elements (resistors, capacitors) with different impedance instead of measurement object. The voltage on the reference TTN is measured in each state of the measuring circuit and appropriate equation of state is formed. Active and reactive components of the equivalent impedance are the solutions of equations system. Equivalent impedance used for finding the measurement results instead of the nominal impedance of the reference TTN. This reduces the systematic matching error when components of TTN impedance are measured.</p>
      </abstract>
      <kwd-group xml:lang="ru">
        <kwd>измерения составляющих комплексного сопротивления</kwd>
        <kwd>погрешность согласования</kwd>
        <kwd>импеданс АЦП</kwd>
      </kwd-group>
      <kwd-group xml:lang="en">
        <kwd>measurements of components of the impedance</kwd>
        <kwd>the complex impedance of the ADC</kwd>
        <kwd>mismatch error</kwd>
      </kwd-group>
    </article-meta>
  </front>
  <back>
    <ref-list>
      <ref>
        <note>
          <p>1.&amp;#8239;Баранов В.А. Измерения параметров композиционных диэлектрических материалов. – Пенза: ИИЦ ПГУ, 2008. – 124 с.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>2.&amp;#8239;Баранов В.А. Систематизация способов измерения составляющих комплексного сопротивления по методу решения обобщенного уравнения мостовой цепи // Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Технические науки. – 2008. – №3. – С. 110–120.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>3.&amp;#8239;Добровинский И.Р., Ломтев Е.А. Проектирование ИИС для измерения параметров электрических цепей. – М.: Энергоатомиздат, 1997. – 120 с.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>4.&amp;#8239;Кнеллер В.Ю. Автоматическое измерение составляющих комплексного сопротивления. – Л.: Энергия, 1967. – 368 с.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>5.&amp;#8239;Отт Г. Методы подавления шумов и&amp;#8239;помех в&amp;#8239;электронных системах. – М.: Мир, 1979. – 320 с.</p>
        </note>
      </ref>
    </ref-list>
  </back>
</article>
